精密微位移测控采用进口最高精度的丝杠,支座及预压零反向间隙的螺帽,特别是采用独创的微米级定位开关实现从微位移测量、定位到光纤定长截取的功能。适当改进亦可以作为精密平行条状剪裁装置。通过笔记本电脑控制小型可编程控制器实现。 具有操作的灵活性及可靠性。经过高精度标准模块的校验,亦可作为微米量级高精度的测量仪器。
产品图示
微位移测试
LT-DY-G3R200V1
通过微米级精度的光开关,测量基准面与被测物体之间的微位移数值实现
实现0-200mm的长度测试
位移步进:25nm
测量行程:2-200mm
结果分辨率:0.001mm
重复性:0.005mm
微位移定位
PT-DY-G3R400V1
通过设定微位移数值精确定位
实现0-400mm区间的微米级定位
位移步进:25nm
测量行程:2-400mm
结果分辨率:0.001mm
重复性:0.005mm
光纤精密定长截取
FLT-DY-G3R400V1
通过微米级精度的光开关,设定基准面与设定光纤基准端面之间的微位移数值实现
实现0-400mm的长度测试
位移步进:25nm
测量行程:2-400mm
结果分辨率:0.001mm
重复性:0.005mm