最新保偏光纤拍长测试仪发明专利获得公开,并进入实质审查

2012年04月06日由德逸时代(天津)科技有限公司,申请的两项发明专利,1,一种基于圆周运动采集数据的拍长测试仪;2,一种组合式封装壳体结构,于2013年10月23日公开,并进入实质审查阶段。
基于圆周运动采集数据的拍长测试仪,提供了更加适合10mm以上,以致20mm以上保偏光纤拍长的测量方法。同时提出了一种基于法拉第效应的非接触拍长测量方案。该发明专利的方案,集德逸时代科技具有的国内领先的拍长测试仪研究经验,及最新的技术和实用化的要求,反映了保偏光纤拍长测试仪的最新发展。特别是基于该方案的专用光源及高精度光功率测试技术的实现,将进一步提高拍长测试的可靠性和实用性。为光纤陀螺及光纤电流传感等光纤相干检测方面的性能分析,保偏光纤筛选等提供可靠的保证。
更多信息请前往公司博客相册,或检索专利原文。愿德逸时代科技的技术进步,与您共创新的辉煌。
德逸时代(天津)科技有限公司
2013年11月20日